透反吸光谱系统
当前位置:主页>透反吸光谱系统>荧光光谱测试系统
荧光光谱测试系统

荧光光谱测试系统


系统用途:
荧光测量可以用于测量液体,固体和粉末的荧光测试。

 

系统特点:

激发光源多样性;

光谱范围可选,根据客户要求定做;

测试;

 

多用光源:

在一个宽光谱范围内滤出锐利的激发光,方便荧光激发。

 


 

 

采集系统:

采用大狭缝,尽量提高入光量。使用背照式面阵CCD,具有高达90%的量子效率(光子转换为光电子的效率),在制冷下,可以达到1000:1的信噪比,这个配置为荧光测量提供了强有力的科学手段。内置的消除二级衍射的滤波片可以滤出二级和三级衍射。

 

定制样品台:
系统需要两根光纤,其中一根用于照明,一根用于读取数据。一个特别设计的样品支架,这个支架可以用于吸收测量,当光纤90度连接的时候,就可以用于荧光测量,同时配荧光反光镜,可以有效的提高荧光效率。

 


上一篇:没有了
下一篇:荧光寿命测定系统
北京纽比特科技有限公司 电话:010-82433097 传真:010-82433097 邮箱:bjnbet@163.com
地址:北京市海淀区清河安宁庄东路18号光华创业园7号楼 Copyright © 2011-2020 版权所有 北京纽比特科技有限公司  
京ICP备11030022号-2